低温试验箱适用于非散热和散热两类试验样品�？己撕腿范ǖ绻�、电子产品在低温环境条件下贮存和使用的适应性。 低温试验方法分为以下三类 非散热试验样品低温试验：--试验Aa：温度突变 --试验Ab：温度渐变 散热试验样品低温试验： --试验Ad：温度渐变 低温试验方法通常用于条件试验期间能达到温度稳定的试验样品。试验持续时间是从试验样品温度达到稳定时开始计算的。在特殊情况下，如果条件试验期间试验样品达不到温度稳定，则试验持续时间从试验箱达到规定试验温度时开始计算。 相关规范应规定： a）试验箱内温度变化速率； b）试验样品放入试验箱的时间； c）试验样品在试验条件下暴露试验开始的时间； d）试验样品通电或加负载的时间。 在这些条件下，相关规范的制定者可根据GB/T 2424.1-1989导则选定以上4个参数（以上条件下的修订正在考虑之中）
